簡述HAST試驗箱原理和試驗說明

作者：林頻儀器發(fā)布日期：2023-03-17 11:24　

一、HAST試驗箱是一種利用高溫和高相對濕度、高大氣壓力的條件下來加快空氣中的水分，通過外部保護(hù)材料或者芯片引線周圍的密封封裝的試驗設(shè)備，用來考核其產(chǎn)品和材料在高溫、高濕、高氣壓情況下對濕度的一個抵抗力，可以加快其失效過程。

二、HAST試驗箱適用于多種行業(yè)，例如IC半導(dǎo)體、連接器、線路板等相關(guān)行業(yè)產(chǎn)品，它能夠通過對樣品施加高溫高濕和高壓的方式，加速老化壽命試驗，用以評估產(chǎn)品密封性能、吸濕性及老化性能。

三、HAST試驗箱還能通過高度受控的壓力容器內(nèi)或創(chuàng)建溫濕度、壓力的條件下來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本地或者產(chǎn)品內(nèi)部里。

四、相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，HAST試驗箱能夠加速溫濕度的老化效果，大大縮短可靠性評估的測試周期，節(jié)約時間成本。