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HAST試驗箱與高低溫試驗之間的不同之處

作者：林頻儀器    發(fā)布日期：2023-04-19 13:43　
如今，在集成電路IC領(lǐng)域內(nèi)，環(huán)境可靠性測試設(shè)備主要有HAST試驗箱和高低溫試驗箱這兩個，但是為什么HAST試驗箱能夠成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢？它們的區(qū)別又在哪里，我們一起來看一下。
 
HAST試驗箱與高低溫試驗之間的不同之處　
　一、這是因為HAST試驗箱是結(jié)合溫濕度、壓力條件的高加索試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外部保護物料和金屬導(dǎo)電層之間的界面滲入，本測試是用于識別封裝內(nèi)部的失效機制而且是破壞性的。
 
　二、高低溫試驗箱能分為多個測試項目，有高低溫運行測試、高低溫交變測試、溫度沖擊測試等等。雖然能測試的項目很多，但是可測試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命。
 
　三、單一的溫濕度測試不夠準(zhǔn)確的測試產(chǎn)品在氣壓下的使用情況。但是HAST試驗箱測試集溫度-濕度-壓力(非飽和可調(diào))一體，多方面測試集成電路IC，評估產(chǎn)品的失效機制。
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